다중 파라미터 식품 위조 검출기

1. 제품은 다중 파라미터 식품 위조 검측기를 응용하여 신경망 검측 원리를 이용하여 다중 파라미터 수학 모델을 구축하고 복합 프로브를 이용하여 혼합 샘플의 물리 및 화학 지표를 측정하며 기기 내부의 공식을 이용하여 액상 식품 샘플 중 위조 혼합의 백분율을 계산한다.복합센서기술은 현재상의 검측기술로서 복잡한 성분으로 구성된 물질검측에서 단일센서는 이미 구체적인 성분의 측정을 만족시킬수 없으며 복합센서기술은 구체적인 성분의 측정을 잘 진행할수 있다.신경망식의 데이터 분석 모델은 복잡한 물질을 구성하는 어떤 구체적인 물질의 특이성을 정확하게 표현하고 나아가 정확하게 측정할 수 있다.

2. 기술 하이라이트 1.신경망식 데이터 분석 모델, 실시간 데이터 처리, 특징점 정밀 잠금;이.시약 소모품이 없어 검측 원가를 낮추고 검측 정밀도를 높인다;삼.검사 항목 업그레이드 모드를 개방하고 고객이 검사 지표 제한치를 사용자 정의합니다.3. 검측 항목 1.표준 샘플에 근거하여 액체 상태의 식품 품질을 신속하게 측정한다;이.식품 풍미 데이터를 잠그고 표준화 대량 생산을 진행한다.삼.과학 연구 단위는 표준 액체 샘플 성분의 데이터베이스를 구축하는 데 쓰인다.