측정 요구 사항
핸드폰 케이스에 있는 애플 로고의 3차원 형상을 스캔하여 프로필을 추출하여 서로 다른 위치의 단차를 측정한다

주요 특징 개요

1. 비접촉식 측정, 일체형 설계

2. 3차원 형태 스캔, 다기능 데이터 처리

3. 다양한 재료에 대한 정확한 측정

4.사용이 간단하고 조립과 분해가 편리하다

5. 스캔 속도가 빠르고 위치 정밀도가 높음

6. ± 0.5 ~ ± 1μm 반복 정밀도 보장

7.안정성이 높고 방해에 강하다

측정 결과
위치에 따라 세그먼트 차이가 다르며 기본적으로 0에서 15 μm 사이입니다.

현 단계의 측정 장치에 존재하는 문제를 해결하다.

1.마모량이 적어 측정 어려움

2. 재료에 대한 일정한 요구가 접촉식 측정, 측정 재료에 손상

3.나쁜 마모 위치 불확정, 측정 속도 느린 정밀도 낮음, 측정 오차 크다

4. 구조가 복잡하고 비용이 많이 든다