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제품 상세 정보
| 연구형 정치 공업 현미경JXM-3020는 ▲주로 금속 내부 구조 조직을 감정하고 분석하는 데 사용되며, 공장이나 실험실에서 주물 품질 감정, 원자재의 검사 또는 재료 처리 후 금상 조직에 대한 연구 분석 등에 응용된다. ▲공업현미경은 사용자에게 디지털 사진 전공을 제공한다.CCD는, 고해상도DV는등 다양한 이미지 수집 모드 및 사용자 요구에 따라 전문적인 금상 분석 소프트웨어 모듈 제공，필요한 그림을 편집, 저장 및 인쇄할 수도 있습니다. ▲사용 성능이 광범위하여 명장, 암시장, 편광 관찰 등을 할 수 있는 점이 있다. ▲대물렌즈, 고글, 관찰통은 모두 효과적인 곰팡이 방지 처리를 하여 지속적이고 선명한 이미지를 확보하고 현미경의 사용 수명을 연장할 수 있다 | |
| JXM-3020는研究型산업용 현미경구성 테이블 | |
| 부품 | 기술 매개변수 |
| 배수 확대 | 광학 증폭: 100-800X; 시스템 증폭: 100-2800X |
| 기체 | 반사조명 현미경 기체: 전체적으로 주조하여 만든다; |
| 무한원색차는 광학계를 독립적으로 교정한다.독일 체이스 광로 설계를 도입하여 영상이 더욱 우월하다 | |
| 동축 조미동 조절 손바퀴, 조절 손바퀴 높이 조절 가능.전원 공급 장치 포함 (100V ~ 240V) | |
| 관찰통 | 두 눈 관찰통 그룹: 두 눈 동간 거리52-75mm；30°기울기굴절도를 조절할 수 있다.(분광비0：100） |
| 안경 | WF10X/20,고안점,굴절도를 조절할 수 있다. |
| 금상물경 | 계획 10X/0.25 WD20.0 |
| 계획 20X/0.40 WD9.3 | |
| Plan 50X/0.70 WD2.4 (스프링) | |
| 계획 80X/0.8 WD1.7 (스프링) | |
| 낙사편광 조명그릇 | 조명 장치:조명이 떨어질 때의 명장, 편광 관찰에 쓰인다.내장형4색여과거울 |
| 12V50W할로겐 램프；12V100W전원；12V50W할로겐 램프 | |
| 편향 렌즈 | |
| 검편경 | |
| 적재대 | 기계 이동 적재대:플랫폼 크기156x138mm，X/Y는축 이동 범위76x54mm, 낮은 동축X/Y는이동 조절 휠. |
| 어댑터 | 내경식 4공 변환기 |
| 인터페이스 | 1X체이스 커넥터 (0.5X옵션) |
| 조명 전구 | 12V50W 오스램할로겐 전구 |
| 시스템 구성 | 컴퓨터형 (JXM-3020C는）1、금상현미경 2、촬영적응경3、300메가픽셀 카메라（배합HToup 보기소프트웨어） 4, 컴퓨터(옵션) |
| 디지털(JXM-3020D): 1 개、금상현미경 2, 디지털 어댑터 렌즈3, 디지털 카메라 | |
. 과학 수준 무손실 형식 이미지 출력 및 저장
. 자연 색상 매트릭스 기술 고화질 색상 복원
. 전역 화이트 밸런싱 및 영역 화이트 밸런싱 기능
. 전자기 간섭 방지 구조 설계
. 편리하고 빠른 원클릭 장치 소프트웨어 설치, 원클릭 이미지 획득 및 저장 기능
. 광범위한 포토 커넥터 옵션 및 대부분의 경우현미경，생물현미경，편광 현미경, 금상현미경,차이 현미경 등
| 번호 | 상소 | 해상도 | 촬영 | 카테고리 | 섹션 | 인터페이스 | 연결 방법 |
| 01 | 300만 | 2048 x 1536의 | 3.2MP의 | 색깔 CMOS | 1/2” | C-마운트 | USB2.0의 |
| 02 | 520만 | 2592 X 1944의 | 5.2MP의 | 색깔 CMOS | 1/2” | C-마운트 | USB2.0의 |
| 03 | 800만 | 3264 x 2448 | 8.0MP의 | 색깔 CMOS | 1/2” | C-마운트 | USB2.0의 |
| 04 | 910만 | 3488 X 2616 | 9.1MP | 색깔 CMOS | 1/2” | C-마운트 | USB2.0의 |
| 05 | 1000만 | 3664 x 2748의 | 10MP | 색깔 CMOS | 1/2” | C-마운트 | USB2.0의 |
| 06 | 1400만 | 4384 x 3288의 | 14MP | 색깔 CMOS | 1/2” | C-마운트 | USB2.0의 |
| 이상의 카메라는 모두 측정, 처리, 분할, 융합 등 기능 소프트웨어를 장착하여 효과가 뚜렷하고 사용이 편리하다 | |||||||
HToup-View 소프트웨어 이미지 처리 소프트웨어 소개
| 이미지 수집: | 이미지의 해상도 크기, 채집 저장 형식, 이미지 속성, 색채, 밝기, 대비도, 노출, 화이트 밸런스 등 파라미터를 설정할 수 있으며 사진 촬영, 녹화, 정시 사진 촬영 등이 가능하다. |
| 이미지 측정: | . 이미지의 둘레, 둘레, 각도, 면적, 원형 지름 및 타원 길이와 같은 매개변수를 측정할 수 있습니다. 예를 들어 직선 길이, 직사각형, 불규칙 그래픽, 타원(원), 3점 원 등의 도구를 통해 측정할 수 있으며 매개변수는 EXCEL 형식으로 내보낼 수 있습니다.. 이미지 크기 축척 (예: 축척) 을 동기화하여 보다 정확한 위치를 지정할 수 있습니다. |
| 이미지 처리: | 실시간 동적 쌍 밝기, 색상, 채도, 레드-초록-파란색 색상을 조정하여 촬영한 이미지를 반색, 부조, 선명함, 매끄러움, 회색값화, 노이즈 제거, 회전, 뒤집기, 대칭복사 등 이미지 처리할 수 있습니다. |
| 드로잉을 치수화하려면 다음과 같이 하십시오. | 쉽고 빠른 문자 치수, 화살표 표시, 다양한 형상 메모 |
| 이미지 분할: | 단색과 다색의 이치화 밸브 값 조정, 부식, 구멍 제거 기능은 윤곽을 더욱 정확하게 그리고 이미지를 분할한다 |
| 이미지 결합: | 현미경이 표본의 부분 이미지만 촬영할 수 있을 때 얻은 부분 이미지를 순서대로 배열한 다음 이미지 결합 기능을 사용하면 전체 표본이 촬영한 전역 이미지를 연구하고 보존할 수 있다. |
| 이미지 융합: | 표본의 두께가 고르지 않거나 표면에 고도의 차이가 있을 때, 고배율 물경의 경심의 제한을 받아 국부적으로 선명한 이미지만 관찰할 수 있다면, 서로 다른 초점면의 이미지를 촬영할 수 있고, 이미지 융합 기능을 이용하여 전체 폭의 완전하고 선명한 이미지를 얻을 수 있다. |
| 수량 통계 | 수량을 신속하게 집계하고 전체와 개체의 둘레와 면적 등 파라미터를 제시하여 전체 또는 국부 통계를 할 수 있으며 측정된 데이터를 도출할 수 있다. |
| 그림 보고서: | 표본 그림에 대한 상세한 텍스트 설명과 인쇄를 위해 그림과 텍스트를 결합한 실험 보고서를 쉽게 작성할 수 있습니다. |
각 카메라 세트에는 다음이 포함됩니다.
| 디지털 카메라 (표준C인터페이스,1.8쌀USB케이블) | 1 |
| TCN-0.5의촬영 접통,23，30，30.5밀리미터 직접 연결 커넥터 (옵션) | 1 |
| 0.01밀리미터 마이크로미터 (옵션) | 1 |
| 드라이버, 소프트웨어 CD | 1 |
| 합격증 | 1 |
| 종이 상자 포장 | 1 |
| 제품 이점: |
| 일본 소니 (소니) 회사ExView HAD는시리즈CCD는이미지 센서 |
| 의 이미지 처리 회로초 정밀한TM색상 엔진 렌더링 기술 |
| 센서 칩인쇄회로기판 조립센터 사전 교정 공정(오차 ±2픽셀) |
| 부합ISO9001의、ISO14001의、RoHS는、CE는、FCC는등 품질 환경 보호 인증 기준 |
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| 제품 특징: |
| 매우 높은 감도 |
| 매우 높은 양자 효율 |
| 높은 노이즈 비율 |
| 매우 낮은 암전류 |
| 매우 낮은 읽기 소음 |
| 긴 노출 시간 제어 |
| 고급 화이트 밸런싱 설정 |
| ROI를가변 영역 |
| 1X1은、2X2의、4X4는픽셀 오버레이 향상 (BINNING） |
| 완전 폐쇄 양질의 알루미늄 금속 케이스 |
| 플랫폼 기반 및 어플리케이션 지원:마이크로소프트 윈도우、맥、리리Linux |
| 다양한 비디오 지원API를인터페이스:DirectShow는、트웨인、LabView는 |
| 데이터 출력 인터페이스:USB2.0의、USB3.0의 |
| 옵티컬 인터페이스:C-마운트、CS-마운트、F-마운트 |
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| 응용 분야: |
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| 명장, 어울림 및 암시야 현미경 |
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| 병리학, 조직학 및 세포학 |
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| 면역 형광 현미경 |
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| 녹색 형광 단백질 (GFP는)의 적용 |
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| 형광 원위 교잡 |
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| 칼슘 이온 비율 분석 |
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| 활력 및 운동 분석 |
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| 탈산소 핵당 핵산 분석 |
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| 금상현미경 |
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| 반도체 검사 |
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| 제조 품질 관리 |
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| 실패 분석 |
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| 법의학 분석 |
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| 소목정-이홍 염색 관찰(병리학) |
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| 겔 영상 |
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| 반도체 검사 |
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| 태양전지판 검사 |
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