일본 일본 임피던스 분석기 HIOKI IM7580A성능 특징
측정 주파수 1MHz~300MHz
측정 시간: 0.5ms
기본 정밀도 ±0.72%rdg.
컴팩트한 호스트는 랙의 절반 크기, 테스트 헤드는 손바닥 크기
다양한 접촉 검사 기능(DCR 측정, Hi-Z 필터링, 파형 판정)
분석 기능을 사용하여 주파수를 스캔하고 신호 레벨을 측정하는 동시에 측정
호스트에는 테스트 장치가 없습니다.임피던스 분석기 IM7580A 전용 테스트 키트가 필요합니다.
임피던스 분석기 IM7580s: 동등한 회로 분석 기능
측정 결과를 토대로 5가지 등가 회로 모드의 상수를 추정할 수 있다.그리고 시뮬레이션 기능을 통해 주파수 특성의 이상적인 값을 추측 결과나 임의의 상수로 표시할 수 있다.또한 비교기 기능을 사용하여 측정 결과가 판정 영역 내에 있는지 확인할 수 있습니다.
임피던스 분석기 IM7580 시리즈: SMD 치료 IM9201을 사용한 LCR 측정
IM7580 시리즈 5개 모델의 측정 주파수는 1MHz~3GHz를 커버한다.
및 6가지 크기의 SMD에 사용되는 테스트 치구 IM9201을 조합하여 사용하여 간단하고 정확하게 샘플을 측정할 수 있습니다.
임피던스 분석기 IM7580 시리즈: 영역 판정 기능
분석 모드의 비교기 기능에서는 측정 값이 임의로 설정된 판정 영역 안으로 들어갔는지 여부를 확인할 수 있습니다.영역 판정 기능은 상한값과 하한값의 범위를 설정하고 IN/NG로 판정 결과를 표시합니다.
임피던스 분석기 IM7580 시리즈: 피크 판정 기능
분석 모드의 비교기 기능에서는 측정 값이 임의로 설정된 판정 영역 안으로 들어갔는지 여부를 확인할 수 있습니다.
피크 판정 기능은 최대값, 하한값, 왼쪽 제한값, 오른쪽 제한값으로 범위를 설정하고 측정된 피크가 판정 영역 내에 있는지 IN/NG로 표시합니다.
임피던스 분석기 IM7580 시리즈: SPOT 판정 기능
분석 모드의 비교기 기능에서는 측정 값이 임의로 설정된 판정 영역 안으로 들어갔는지 여부를 확인할 수 있습니다.
SPOT 판정 기능은 스캔 지점과 매개변수를 모두 선택하여 최대 16점까지 판정합니다.
임피던스 분석기 IM7580 시리즈: 비교기 기능
비교기 기능을 사용하여 임의로 설정된 판정 영역 내에 측정 값이 들어왔는지 확인할 수 있습니다.
샘플의 합격 여부를 판정하는 기능에 적용됩니다.
임피던스 분석기 IM7580 시리즈: 접촉 검사 기능
접촉 검사 기능을 사용하면 샘플과 측정 포트의 접촉 상태를 확인하고 접촉 불량 및 연결 상태를 확인할 수 있습니다.
임피던스 분석기 IM7580 시리즈: 테스트 헤드 연결 방법
테스트 헤드의 연결선 연결 임피던스 분석기.
트위스트 렌치의 손잡이를 약간 구부린 후 너트(0.56N·m)를 조입니다.
머리를 너무 돌리지 않도록 주의하세요.
정밀도 계산 소프트웨어
숫자 값만 입력하면 정밀도를 쉽게 계산할 수 있습니다.
일본 일본 임피던스 분석기 HIOKI IM7580A기본 매개변수
측정 모드 LCR(LCR 측정), 분석(스캔 주파수 측정), 연속 측정
측정 매개변수 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
정밀도 보장 범위 100 mΩ~5 kΩ
표시 범위 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
기본 정밀도 Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
주파수 측정 1MHz~300MHz(100Hz~10kHz 스텝)
측정 신호 레벨 전력(dbm) 모드: -40.0dbm~+7.0dbm
전압(V) 모드: 4mV~1001mVrms
전류(I) 모드: 0.09mA~20.02mArms
출력 임피던스 50º(10MHz)
표시 컬러 TFT8.4인치, 터치스크린
측정 시간 0.5ms(FAST, 시뮬레이션 측정 시간, 대표)
기능 접촉 검사, 비교기, BIN 판정(분류 기능), 패널 읽기·저장, 저장 기능, 동등한 회로 분석, 관련 보상
인터페이스 EXT I/O(프로세서), USB 통신, USB, LAN
RS-232C(옵션), GP-IB(옵션)
전원 공급 장치 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
볼륨 및 무게 호스트: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
테스트 헤드: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
첨부 파일 전원 코드 × 1, 테스트 헤드 × 1, 케이블 × 1, 사용 설명서 × 1, CD-R(통신 사용 설명서) × 1