DM2400유형

MEDXRF경원소 분광기

만족국가 Ⅴ, 국가VI자동차용 경유에 대해 매우 낮다.S테스트 요구 사항

초저 검출 한계 (300s）：

Si: 0.7ppm，P: 0.4ppm，

S: 0.15ppm，Cl: 0.08ppm

채택

단색자극 에너지 색산X방사선 형광(MEDXRF)분석 기술

고연사 효율대수 나사이중 서피스 회전(LSDCC)인공 결정

높은 계수율(2Mcps)및 해상도(123eV)의SDD탐지기

합리적kV、mA、표적재 조합의미초반얇은 베릴륨 창문X방사선관

표준 준수:

GB/T 11140

ISO20884

ASTM D2622

ASTM D7039

ASTM D7220

ASTM D7757

ASTM D7536

ISO 15597

ASTM D6481

개요

DM2400형 단색 자극 에너지 색산X방사선형광경원소(Si、P、S、Cl) 분광기,약칭DM2400유형MEDXRF경원소 분광기,저희 회사 집입니다. 수십 년.X형광 분광기 의 연구 경험 은 회사 에서 원래 가지고 있던 것 이다DM시리즈X형광 유황 측정기,X형광 다원소 분석기, 파장 색산X방사선 형광 다도 분광기 등의 기초 위에서 연구 제작하여 내놓은 우리 회사의 첫 번째 단색 자극XRF분광기.다음과 같은 기술과 부품을 사용합니다.채용하다50W광관의 에너지 분광기DM2400뛰어난 재현성과 안정성, 초저검출 제한을 가지고 있어 현대 과학기술을 극대화했다.

단색 자극 에너지 색산X방사선 형광(MEDXRF)분석 기술

X방사선 형광 분광기의 검출 제한LOD（limit ofdetection3) 는 기질의 공백으로 인해 발생하는 기기의 배경 신호의 표준 편차를 말한다

배율에 해당하는 양:1（

）식중,_Rb배경 (이 바닥) 의 강도를 계산합니다.N에 대해 알려진 농도는C의 저농도 시료의 계수 강도,T1시간을 측정합니다.종속 () 체크 아웃 한계 및 민감도 (_N-Rb）/C배경과 반비례하다_Rb

의 제곱근은 정비례한다.측정 시간이 일정한 상황에서 체크 아웃 한계를 낮추려면 민감도를 높이고 배경을 낮춰야 합니다.1.그림MEDXRF

기술 원리도를 분석하다.전통XRF, 어떤EDXRF아니면WDXRF체크 아웃 제한을 낮출 수 없는 주요 이유 중 하나는X

방사선 광관 출사 스펙트럼에서 연속적으로 방사선을 일으키는 산란은 형광 스펙트럼의 연속 산란 배경을 비교적 높게 한다.단색 자극 에너지 색산X방사선 형광(MonochromaticExcitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)분석 기술은 바로 광학 부품을 채용하여X방사선 광관은 스펙트럼을 단색화하여 형광 스펙트럼의 연속 산란 배경을 크게 낮추는 동시에 가능한 한 적게 낮추거나 심지어 가능하면 필요한 자극을 증가시킨다X방사선의 단색화된 선이나 좁은 에너지 대역의 강도는 검출 제한을 크게 낮춘다.전통적인 것에 비해1EDXRF2감소다음개수 단위의 고출력 (예:4kw)의

WDXRF2.훨씬 낮아야 합니다.그림견본의

XRF

스펙트럼 도고연사 효율 대수 나사 회전점 대점 초점 인공 단색 결정곧X방사선 광관은 스펙트럼을 단색화하는 방법이 매우 많은데, 필터 필름법, 2차 표적법과 연사법 등이 있다.그리고 연사법의 이중 곡면 연사 결정체DCC（

DoublyCurvedCrystals) 단색화가 가장 좋고 효율이 가장 높다.

회절은 반드시 만족해야 한다 Bragg2법칙:

nλ=2dsinθ2（）즉, 소스에서 방출되는 방사선의 파장이 충족되어야 합니다 ()식은 연사되기 때문에 단색화가 매우 좋다.또 때문에DCC점원에 초점을 맞출 수 있기 때문에 입체각을 크게 수집하여 매우 높은 효율을 얻을 수 있다.또한 초점은 샘플을 비추는 반점을 작게 만들어 작은 면적의 반도체 탐지기를Si-PIN또는SDD

대부분의 샘플의 비교적 작은 면의 형광선을 받아들일 수 있다. 즉,3.DCC탐지 효율도 높였다.그림

실선은X방사선관의 출사 스펙트럼,붉은색을 경으로 하다LSDCC

단색화된 피쳐X방사선 입사 스펙트럼DCC서피스별로 반초점 (Johann), 전체 초점 (Johansson) 및 대수 나사 (Logarithmic Spiral) 등.그 중 반초점은 부분적으로 연사 조건을 만족시킬 뿐이기 때문에 반초점을 거친다DCC단색화된 피쳐X방사선 입사 스펙트럼은 최악이다.전체 초점은 연사 조건을 완전히 만족시키고 점대점 초점이다.하지만 전체 초점DCC의 제조 공정은 매우 복잡하여, 구부러진 것 외에 반드시 하나의 연마가 있어야 한다R표면의 과정, 천연 결정Si，Ge등은 매우 아삭아삭하여 매우 쉽게 연마할 수 없지만, 인공 수정체는 연마할 수 없다. 또한 천연 수정체는 보통 매우 좁은 스펙트럼 영역에 있다연쏘다X방사선.표적재 특징을 초래하다

X방사선은 일부분만 연사되어 적분 연사율이 낮다。DM24002채택된 대수 나사 회전 쌍곡면 인공 수정체DM30L우리 회사의 기술 엘리트 경전을 모은 것이다년 동안 열심히 연구하여 연구 제작한 특허 제품.대수 나사DCC또한 연사 조건을 완전히 만족시킨다. 비록 초점은 점대점이 아니라 점대면이지만 이 면은 매우 작기 때문에 일반적으로2mm좌우, 그래서 점대점이라고 볼 수 있다.3얘가 쓰는 건...10DM

인공 수정체, 이 결정체의 적분 연사율은 천연 수정체의 것이다4. 도착배, 그래서 이 결정의 효율은 현재 세계에서 가장 높다.또 구부리기만 하면 연마와 조립이 필요 없어 제조가 편리하다.

그림LSDCC점대점 초점 원리도고해상도(123eV)높은 계수율

(2cps) 의SDD탐지기X방사선 탐지기의 종류는 매우 많은데, 정비례 계수관이 있고,8Si-PIN8탐지기 및 실리콘 드리프트 탐지기SDD기다려.탐측기의 해상도는 전능봉의 반너비로 표시되는데 전능봉의 순계수는 반너비와 무관하지만 그 배경계수는 반너비와 정비례하기때문에 해상도가 높을수록 검출제한이 낮다.정비례 계수관의 반폭은 반도체 탐지기의 것이다배 정도 되므로 체크 아웃 제한이 높음의 제곱근 배 정도.Si-PIN해상도 비율

SDD0은 (는) 약간 낮고 높은 계수율에서 해상도가 급격히 떨어지기 때문에SDD최고의 탐지기입니다.DM240독일을 채용하다KETEK회사에서 생산했어VITUS H20 CUBE(최고급)SDD²해상도가 낮은 탐측기123eV, 유효 탐지 면적

20mm5. , 계수율2Mcps

。그림실리콘 표류 탐지기SDD합리적kV、

mA, 표적재 조합의 미초반 얇은 베릴륨 창X방사선관샘플의X방사선 에너지는 필요한 분석 원소의 흡수 제한에 가까울수록 그 자극 효율이 높아진다.DM30L결정은 연사만 한다X방사선관 출사 스펙트럼 중의 고강도 특징X방사선, 그것은 표적재가 발사한다.그래서 표적재를 합리적으로 선택하면 가장 높은 자극 효율을 얻을 수 있다.DM2400표준형은 측정이 가능하기 때문에

Cl다음 요소를 선택하십시오.Ag표적재로 삼다.과녁 재료를 선정한 후,X방사선 광관의 최대 출력이 일정한 상황에서, 예를 들면50W, 합리적인 광관 고압 (kV) 및 전류(mA) 조합은 최대한의 자극 효율을 얻을 수 있다.점대점 의 초점 을 사용하기 때문에 반드시 미초점 반점 의X광관.표적재의 특징 때문에

X방사선 에너지가 매우 낮기 때문에 반드시 얇은 베릴륨 창문을 사용해야 한다X방사선관.DM2400채택50W미초반 얇은 베릴륨 창문X방사선관, 표준형 선택Ag표적, 그리고

kV6. 、mA합리적으로 조합하다.

그림

미초반 얇은 베릴륨 창문7X방사선관지정이미 알고 있는 함량의개포함Si、P、7S

、7. Cl샘플 은 계기 에 대해 측정 을 하여 그림 을 얻는다의 작업 커브입니다.그림포함Si、P、

S、Cl0.999샘플 작업 곡선이러한 작업 커브의 상관 계수γ

모두 보다 큼

, 표시DM2400분광기의 선형 오차는 극히 적다.

정확도2. 분석의 정확성을 한층 더 시험하기 위하여 부동한 류황함량을 가진 디젤유와 경질유의 5개 견본을 제조하였는데 매 견본은 2개의 부동한 견본컵에 담아 진행하였다.S정확도 테스트:

디젤유2휘발유휘발유휘발유테이블획득한 농도 결과를 나타냄 (ppm) 및 태그 값과의 비교.이 결과는 낮은 농도 수준에서

DM2400

분광기는 실현할 수 있다S의 우수한 정확도.정확도세 가지에 대해 각각 일곱 개씩 넣습니다

샘플 컵1.의 가솔린 샘플 진행S반복 테스트:테이블S가솔린 샘플S

RSD8.6%4.00%2.69%이 결과는 낮은 농도 수준에서

DM2400

분광기는 실현할 수 있다S뛰어난 반복성.특징

빠른 동시에–필요한 측정 요소는 동시에빠른 분석, 일반적으로 수십 초 동안 함량 결과를 제공합니다.낮은 체크 아웃 한계–선진적인 것을 채용하다

MEDXRF기술,LSDCC핵심 기술, 세계 최저 검출 한계 달성.매우 높은 재현성과 재현성을 지니고 있다.장기적 안정–가변 이득 숫자 다중 채널 사용,있다

PHA자동 조정, 드리프트 보정, 편차 보정 등의 기능，장기적인 안정성이 뛰어나다.

친환경 에너지 절약–방사선 방호가 면제 요구에 도달하다.분석할 때 접촉하지 않고 시료를 파괴하지 않으며 오염이 없으며 화학시약이 필요하지 않고 연소도 필요하지 않다.사용이 편리하다–터치스크린 조작.샘플은 직접 샘플컵에 담아 기기에 넣은 후 누르기만 하면 된다

[시작]키를 누르면 됩니다. 실제로 원키 조작을 실현합니다.높은 신뢰성

–올인원 디자인,집적화 수준이 높고, 환경 적응력이 강하며, 방해에 강하고, 신뢰성이 높다

, 첨가제, 첨가제 함유 윤활유, 그리고 제화 과정 중의 제품.

각 분야의 모든 자료에도 적용Cl다음 요소의 동시 측정1주요 기술 지표3참고: 사용자가 표준DM2400요구를 만족시키지 못하면 본사에 제기할 수 있고, 본사는 가능한 한 사용자의 요구를 만족시킬 수 있다.만약 더 낮은 검사 제한을 요구한다면, 우리 회사는 결정체를블록 증가테스트 제한을 낮추는 블록1/1.73. 필요한 경우 측정F다음 원자 서수의 요소는 당사가 사용자를 위해 선택할 수 있습니다AP3.3입사창의SDD. 사용자가 높을 경우S의 기체 아래 미량 측정Al및Si, 당사는 표준형