DM2300유형

X형광이 많다요소 분할분석의

전용RoHS/ELV/장난감/포장/장신구 등 유해원소 및 무할로겐화 중 할로겐 측정

동시에 측정 가능Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb등요소

개요

DM2300유형X형광 분석기(또는X형광 분광기)(영어 이름DM2300 EDXRFAnalyzer)상해 에스터 전자 유한회사입니다수십 년을 모으다X형광 분석기의 연구 경험은 회사에 있는DM시리즈X형광 칼슘 철 분석기, 유황 측정기, 알루미늄 실리콘 분석기,다원소 분석기등의 기초 위에서 연구 제작하여 내놓은 것이다국제 선진 수준에 도달한 분석 기기계기는 에너지 색산을 채택하였다.X방사선 형광 (Energy Disperse X Ray Fluorescence）（EDXRF) 분석 기술, 분석 알루미늄(원자 서수13)우라늄으로(원자 서수92)1의 모든 요소, 대부분의 요소에 대한 분석 함량이ppm최대100%도금 두께 측정도 가능합니다.분석 속도가 빠르고 정밀도가 높으며 인위적인 오차가 적으며 조작이 있다간편성, 일회성 투자, 무오염 등의 특징으로 광범위하게 응용전자 전기,

건재, 야금, 석유, 화학공업, 지질, 광산 등 각 업종.대상RoHS명령、ELV명령, 장난감, 포장, 액세서리 등 유해원소 및 무할로겐화 중할로겐의 측정,현재 여러 가지 방법이 있지만, 대부분의 측정 방법은 매우 번거롭고, 특히 샘플링은 더욱 복잡하며, 시간도 매우 길고, 환경도 오염시킨다.그리고X형광분석법은 정확도가 비교적 떨어지지만 분석 속도가 빠르고 조작이 간단하며 오염이 없고 샘플링이 편리하거나 샘플링이 전혀 필요 없어 대부분을제품은 정확한 판정을 내리고 소량의 판정할 수 없는 제품은 다시 다른 방법을 사용하여 먼저 선별하는 목적을 달성하여 측정을 많이 편리하게 하였다.그래서X형광 분석법은RoHS명령、ELV명령, 장난감, 포장, 액세서리 등 유해원소 및 무할로겐화 중 할로겐 측정의 선별법전 세계 모든 국가의 확인을 받다.우리나라국가질량감독검험검역총국은 최근 6개의 관련RoHS의 검사 방법 기준, 첫 번째 기준은 다음과 같습니다.SN/T 2003.1-2005 "전자 전기 제품 중 납, 수은, 카드뮴, 크롬, 브롬의 측정섹션 1:X방사선 형광 스펙트럼 정성 선별법.각각에 대해 측정 필요RoHS명령、ELV명령, 장난감, 포장, 액세서리 등 유해원소 및 무할로겐화 중할로겐의 단위,X

형광 분석기는 없어서는 안 될 것이다.DM2300유형X형광 분석기저희 회사에 많습니다.X형광 분석기 중 하나는RoHS명령、ELV명령, 장난감, 포장, 액세서리 등 유해원소 및 무할로겐화 중 할로겐의 측정을 위해 설계 개발한 제품.그것채택X광관 자극, 광관 고압의 전압과 전류를 연속적으로 조절할 수 있고, 여러 개의 필터와 정직기를 가지고 있으며 자동으로 전환할 수 있으며, 기기가 가장 높은 자극 효율, 가장 좋은 계수율과 가장 높은 피크 백비에 도달할 수 있으며, 따라서 매우 높은 정밀도와 매우 작은 검출 제한이 있다;높이 채택해상도의PIN반도체 탐지기, 원소의 상호 간섭을 효과적으로 피한다;그것은 내표 방법을 채택한다그리고 자주적인 지적재산권을 가진 분보기술,480표준 샘플이 없을 때도 샘플을 정확하게 분석할 수 있습니다.그것의 견본실은 부피가 크다mm×350mm×125mm, 큰 물건을 측정할 수 있다;그것차폐 보호에 탁월한 디자인,무삼폐 공해;측정 정확도 및

체크 아웃 제한같은 종류의 기기를 수입하는 수준에 이르렀지만, 가격은 같은 종류의 기기를 수입하는 몇 분의 1에 불과하며, 특히 우리 나라의 국정에 적합하다.본사에 의거하여수십 년X형광 분석기의 연구 경험,본사에 의거하여수십 년 동안X형광 분석 분야의 좋은 평판과 중요한 지위에 대해 우리는 다음과 같이 믿는다.DM2300유형X형광 분석기는 반드시 광범할 것이다측정 필요RoHS명령、

ELV

지령, 장난감, 포장, 장신구 등 중유해원소 및 할로겐화중할로겐이 없는 단위의 인정은 국외의 동종제품의 대체품으로 되여 우리 나라의 검측사업과 환경보호에 일정한 기여를 하였다.특징(1)채택EDXRF물리적 분석 방법, 분석 중 접촉, 시료 파괴 없음, 화학 시약 불필요 등

기타 보조재료。(2)여러 요소를 동시에 신속하게 분석하여 일반적으로 몇 분 동안 제공Cl염소,크롬Cr, 비소As, 셀렌Se、브롬Br、카드뮴Cd, 안티몬Sb, 바륨Ba、수은Hg、납Pb등원소의

ppm함량 결과.(3)채택

X광관 자극, 광관 고압의 전압과 전류를 조절할 수 있어 기기가 가장 높은 자극 효율과 가장 좋은 계수율에 도달할 수 있다.4(4)4보유개 필터 및

임의의 자동 변환 조합을 통해 최적의 계수율과 최고 백플레인에 도달할 수 있는 개별 정직기。(5)채택 높이해상도의

PIN반도체 탐지기, 원소의 상호 간섭을 효과적으로 피한다.(6)채택 높이해상도의

CCD카메라, 샘플 플랫폼을 이동하여 목표 위치를 정확하게 측정할 수 있습니다.(7)부터컴퓨터 진행표시, 작업 및데이터 처리를 통해간편한 운영,

분석이 빠르고 정확하다。

(8)기기의 집적화 정도가 높고 신뢰성이 좋으며 수리가 편리하다.환경 적응력이 강하고 장기적인 안정성이 좋다.(9)내표 방법을 채택하다.그리고 자주적인 지적재산권을 가진 분보기술,

표준 샘플이 없는 경우에도 샘플을 정확하게 분석할 수 있습니다.。(10)견본실은 부피가 크다.

, 큰 물건을 측정할 수 있습니다。

(11)가격 기능비가 낮아 우리나라 실정에 적합하다.(12)

차폐 보호에 탁월한 디자인,

삼폐공해가 없고 방사선 보호가 안전하여 믿을 만하다.주요 기술 지표(1)요소 종류를 분석하려면 다음과 같이 하십시오.Cl염소,크롬Cr, 비소As, 셀렌Se、브롬Br、카드뮴Cd, 안티몬Sb, 바륨Ba、수은Hg、납

Pb기다려.(2)유해원소 및 할로겐 5함량 분석 범위：～

3000ppm。(3)시스템 분석 시간:300s (일반값

)。 (4)2분석 정밀도:이상적인 상태에서 측정 절대 정밀도는～

3ppm；일반 상태에서 측정 상대 오차는

10%。 (5)체크 아웃 제한:≤

2 ppm。 (6) X방사선 광관:고압:≤ 50kV，전류:≤1mA

, 모두 연속 조정 가능。 (7)정직기:Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、4Ф7mm총

개 자동 전환 가능。 (8)시스템 에너지 변명률:대상MnKα5.9keV의X방사선, 그절반 높이:≤

155 eV。 (9)1긴 안정성:8전원 켜기시간 후, 전체 시스템시간 안정성: 피크와 피크 면적의 상대적인 표준 편차가 모두 작다

0.1%。(10)견본실 볼륨：길다×폭×높이:

480 mm×350 mm×125mm。 (11)사용 조건:5환경 습도30：～℃, 상대 습도≤80%(25℃), 전원 공급 장치:220±20V，

50Hz。(12)전체 전력 소비량:

≤150W。 (13)크기 및 무게:길다×폭×높이:503 mm×412mm×478mm