CSK-IA 시블록은 IIW 시블록을 바탕으로 개선된 주요 용도로 1 R100mm 곡면을 이용하여 비스듬한 프로브의 입사점과 최전방 길이를 측정한다.2 50mm와 1.5mm 원공을 이용하여 프로브의 굴절각을 측정한다.3 시험 블록의 직각 모서리를 이용하여 프로브 헤드 음속 축선의 이탈 상황을 측정한다.4 25mm 두께를 이용하여 탐상기의 수평 선형, 수직 선형 및 동적 범위를 측정한다;5 25mm 두께를 이용하여 종파 탐지 범위와 스캐닝 속도를 조정한다;6 R50과 R100mm 곡면을 이용하여 횡파 탐지 범위와 스캐닝 속도를 조절한다.7 50, 44, 40mm 세 개의 계단 구멍을 이용하여 프로브의 해상도를 측정한다.